萬(wàn)能工具顯微鏡可以測量零件的長(cháng)度、角度、螺紋等諸多幾何量參數，是長(cháng)度計量檢測中使用*多的一種測試儀器，因此廣泛應用于機械加工業(yè)的各類(lèi)企業(yè)。但隨著(zhù)現代工業(yè)的發(fā)展以及科技的進(jìn)步，傳統的老式萬(wàn)工顯已難以滿(mǎn)足要求，因此很有必要對其進(jìn)行工藝改造。本文以*常用的 JX7 型萬(wàn)能工具顯微鏡為例，介紹對萬(wàn)能工具顯微鏡的數顯工藝改造。 
一、 數顯系統的改型 
    根據用戶(hù)多年在設備中應用光柵、磁柵以及球柵數顯系統的經(jīng)驗，比較不同數顯系統的特點(diǎn)并通過(guò)性能和精度檢測，選擇 KG1 型高精度光柵數顯系統。該系統具有制造精度高、穩定性好、可靠性好以及裝置簡(jiǎn)單、調試方便、對環(huán)境要求不高等優(yōu)點(diǎn)，適合用于萬(wàn)工顯的改造。 
    根據 JX7 型萬(wàn)工顯的測量范圍為縱坐標 200mm 、橫坐標 100mm ，選用 KG1 型測量范圍 250mm 和測量范圍 100mm 兩根光柵；選用配套的 GS-2000 型兩軸數顯表（*小分辨率為 0.2 μ m ），它具有傳感器的接口，可與 KG1 型原裝計量傳感器進(jìn)行配套。 
二、數顯系統的裝置 
    由于加裝數顯系統必須在不影響儀器原有光學(xué)系統的前提下進(jìn)行，所以采用圖 1 所示裝置方案：將 250mm 的長(cháng)磁尺裝置在縱向導軌的右側（左側是儀器原有的玻璃刻度尺），因裝置位置所限右側須加裝一個(gè)支承塊，用來(lái)固定光柵的右端； 100mm 的光柵裝置在橫向導軌的**（圖 1B 處）。按照說(shuō)明書(shū)上的裝置工藝條件，分別將兩個(gè)尺子裝置基面調整到與縱、橫向導軌運動(dòng)方向（水平方向和垂直方向）平行，其平行度〈 0.1mm （通常裝置時(shí)都能方便地調整到 0.05mm 以?xún)龋?nbsp;
三、數顯系統的調試 
    縱坐標的調試：取下一起縱向導軌上的玻璃工作臺，將一塊 200mm 的 3 等量塊兩端分別研上 10mm 的量塊附件，將其裝置在縱向導軌刮研基面（見(jiàn)圖 1 量塊安置處），使其與光柵尺裝置在同一直線(xiàn)上，以減少阿貝差別。再用裝置在儀器橫向滑架上的計量傳感器測頭與量塊的一端接觸，此時(shí)數顯表開(kāi)始計數，然后移動(dòng)縱向導軌使傳感器測頭與量塊的另一端接觸，在接觸的瞬間數顯表停止計數并保持數據。數顯表的顯示值與量塊的實(shí)際尺寸之差就是數顯系統的差值。該差值若小于 3 μ m 則不必修正，若大于 3 μ m 時(shí)可根據差值的大小通過(guò)數顯表的差別補償系統進(jìn)行線(xiàn)性補償，可使差別小于規定的數值甚至接近于零。 
    以同樣的方法用 100mm 的量塊對橫坐標進(jìn)行調試，此不贅述。 
四、數顯系統的檢定 
    根據萬(wàn)工顯檢定規程中的相關(guān)規定，需要檢定讀數裝置的示值差別、讀數裝置的回程差別和示值差別。 
（ 1 ） 讀數裝置的示值差別檢定 
    對數顯系統來(lái)說(shuō)，讀數裝置的示值差別就是數顯表的*小分辨率，即± 0.5 μ m ，無(wú)須檢定。 
（ 2 ）讀數裝置的示值差別的檢定（相當于磁柵尺的重復性） 
    光柵尺讀數裝置就其構造和原理來(lái)說(shuō)是沒(méi)有回程差別的，當然這需要很高的工藝水平做保證。通過(guò)用 0.1 μ m 的電感測微儀反復測試，光柵尺讀數裝置的回程差別*大不超過(guò) 0.5 μ m 。 
（ 3 ）示值差別的檢定（相當于磁柵尺的準確性） 
    用檢定極限差別不大于 0.5 μ m 的玻璃刻度尺作為標準，按照規程規定的條件方法對縱、橫向分別進(jìn)行檢定；若沒(méi)有玻璃刻度尺，可用萬(wàn)工顯原有的刻度尺與光柵尺進(jìn)行比較檢定，并用儀器原有的示值差別進(jìn)行修正，以確定光柵尺各被檢點(diǎn)的實(shí)際差別，若有超差再用線(xiàn)性補償系統進(jìn)行補償。